Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного тестирования цифровых схем.
Дяченко О.Н., Зинченко Ю.Е., Дяченко В.О.
Выполнен анализ эффективности компактного тестирования комбинационных схем, учитывающего структуру генератора тестовых последовательностей, анализатора тестовых реакций, построенных на основе методов циклического кодирования, и характер распределения ошибок в тестовой реакции. Предложен метод расчета сигнатур, отличающийся от известного, в выборе степенного обозначения тестовых наборов вместо двоичного. Показано, что главное достоинство аналитического вычисления сигнатур являются не столько значения компактных оценок, а вывод о сигнатурной тестируемости комбинационных схем. Этот вывод распространяется на многовходовые анализаторы тестовых реакций; для структур с посимвольным перемежением; для порождающих полиномов, как в конфигурации Галуа, так и в конфигурации Фибоначчи. Предложены рекомендации по выбору порождающих полиномов регистров сдвига с линейными обратными связями для различных вариантов компактного тестирования. Ключевые слова: Генератор тестовых последовательностей, анализатор тестовых реакций, регистр сдвига с линейными обратными связями, порождающий полином, циклические коды.
