Диагностирование цифровых схем: этапы развития и проблемы.
Андрюхин А.И.
В статье представлены основные этапы развития и проблемы тестового диагноза цифровых схем. Основная модель в диагностике биполярных схем рассматривается. Ее свойства и недостатки описаны для диагностике современных МОП СБИС. Основные проблемы тестирования МОП структур рассмотрены. Обзор работ при проектировании тестопригодных схем представлен. Подчеркнута важность правильной оценки осцилляций при моделировании неисправных устройств. Результаты моделирования на переключательном уровне МОП-структур также представлены. Основные направления построения транзисторов нового поколения рассмотрены. Ключевыеслова: тест, диагностика, КМОП, тестопригодная, IDDQ.
